赛默飞最深入的材料分...

赛默飞最深入的材料分析透射电镜Talos F200X G2 TEM参数指标

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性能数据

HRTEM 线分辨率
  • ≤0.10 nm

STEM 分辨率
  • ≤0.16 nm (X-FEG)

  • ≤0.14 nm ,100 pA (X-CFEG)

Super-X EDS 系统
  • 4 SDD 对称设计、无窗、遮光板保护

电子能量损失光谱 (EELS) 能量分辨率
  • ≤0.8 eV (X-FEG)

  • ≤0.3 eV (X-CFEG

200 kV 下的枪亮度  
  • 1.8×109 A /cm2 srad (X-FEG)

  • 2.4×109 A /cm2 srad (X-CFEG)





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