JEM-2100F 场发射透射...

JEM-2100F 场发射透射电子显微镜参数指标

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物镜种类*1极高分辨率
(UHR)
高分辨率
(HR)
样品高倾斜
(HT)
冷冻传输
(CR)
高衬度
(HC)
物镜URP型HRP型HTP型CRP型HCP型
分辨率
 点分辨率0.19 nm0.23 nm0.25 nm0.27 nm0.31 nm
 线分辨率0.1 nm0.1 nm0.1 nm0.14 nm0.14 nm
加速电压*2160 kV,200 kV*1
 zei小步长50 V
 步长50 V minimum
电子枪
 发射方式ZrO/W(100)
 亮度≧4×108 A / cm2 / sr
 真空度×10-8 Pa 级
 束流电流0.5 nA以上(束班直径 1 nm)
稳定度
 高压电源≦1×10-6/min
 物镜≦1×10-6/min
物镜
 焦距1.9 mm2.3 mm2.7 mm2.8 mm3.9 mm
 球差系数0.5 mm1.0 mm1.4 mm2.0 mm3.3 mm
 色差系数1.1 mm1.4 mm1.8 mm2.1 mm3.0 mm
 zei小焦距步长1.0 nm1.4 nm1.8 nm2.0 nm5.2 nm
束斑尺寸
 TEM 模式2 to 5 nm7 to 30 nm
 EDS 模式0.5 to 2.4 nm--4 to 20 nm
 NBD 模式---
 CBD 模式1.0 to 2.4 nm-
电子束衍射
 衍射角1.5 to 20 mrad--
 取出角±10°--
倍率
 MAG 模式×2,000 to 1,500,000×1,500 to 1,200,000×1,200 to 1,000,000×1,000 to 800,000
 LOW MAG 模式×50 to 6,000×50 to 2,000
 SA MAG 模式×8,000 to 800,000×6,000 to 600,000×5,000 to 600,000×5,000 to 400,000
相机长度
 选区电子衍射80 to 2,000100 to 2,500150 to 3,000
 高色散衍射4 to 80
 高分辨率衍射*2333 mm
样品移动
 X,Y2 mm2 mm2 mm2 mm2 mm
 Z±0.1 mm±0.2 mm±0.2 mm
倾斜角
 X / Y*3±25/±25°±35/±30°±42/±30°±15/±10°±38/±30°
 X*4±25°±80°±80°±80°±80°
STEM*5
 明场线分辨率0.2 nm--
  分辨率--
EDS(Si(Li)型检测器)*6
 固体角(30mm2)0.13 sr.0.13 sr.0.13 sr.*80.09 sr
 固体角(50mm2)*70.24 sr.0.28 sr.0.23 sr.
 取出角(30mm2)25°25°25°*820°
 取出角(50mm2)*722.3°24.1°25°


*1 : 订购时请指定物镜种类
*2 : 加速电压为80、100、120 kV时,请使用加速管短路开关(选配件)
*3 : 使用双倾斜样品杆(EM-31630).
*4 : 使用高倾斜夹头(EM-21310).
*5 : 扫描图像观察装置为选配件
*6 : EDS为选配件
*7 : 使用JEOL的50mm2的EDS检测器
*8 : 不能安装EDS

  1.点分辨率:0.19nm

  2.线分辨率:0.14nm

  3.加速电压:80, 100, 120, 160, 200kV

  4.倾斜角:25

  5.STEM分辨率:0.20nm






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