JEM-3100F 场发射透射电子显微镜参数指标

　　点分辨率：0.17nm

　　线分辨率：0.1nm

　　STEM ：0.14nm

　　电子枪 ：肖特基式热场发射枪

　　亮度 ：7x108A/cm2sr以上

　　束流强度：0.5nA 以上/1nm

　　放大倍数：x60 - x1,500,000

　　能谱立体角：0.13sr