JEM-2100 透射电子显微镜技术特点

【技术特点】-- JEM-2100 透射电子显微镜

200kV的JEM-2100通用型电子显微镜，由PC一体化管理各种功能，性价比高，能支持生物、生物到材料等所有领域的研究和开发。

• 配有高性价比的LaB6电子枪。

• 实现了0.19 nm的高分辨率 （使用URP极靴 ）。

• 实现了STEM（扫描透射图像观察装置）、EDS（能谱仪）与主机控制PC的一体化控制。

• EDS 的固体角达到0.28 sr （使用HRP极靴和50 mm2检测器），可以进行高灵敏度、高分辨率的分析。

• 采用新设计的测角台，可以进行长时间、稳定的观察和分析。

　　1.五种极靴UHR、HR、HT、HC、CRYO

　　2.稳定的操作系统

　　3.zei小束斑尺寸：0.5nm

　　4.良好的扩展性

The JEM-2100 is a multipurpose, 200 kV analytical electron microscope. Variety of versions is provided to adapt user’s purposes. The JEM-2100, which incorporates an integrated PC system for various functions with excellent cost performance, supports research and development in wide scientific fields, for biology to materials researches.

Excellent LaB6 electron gun promises excellent performance with a reasonable cost.

Ultrahigh TEM resolution as high as 0.19 nm (in UHR configuration)　enables us to perform an observation at atomic resolution.

STEM (Scanning Transmission Electron Microscope: option) function integrated in PC control system enables us to see a scanning image of a sample at nanometer resolution.

EDS (Energy Dispersive X-ray Spectrometer) with a 0.28sr of solid angle (in HR configuration with a 50mm2 detector) performs highly sensitive analysis at nanometer resolution.

Highly stable specimen stage enables us to perform a long term observation and analysis.

【技术特点对用户带来的好处】-- JEM-2100 透射电子显微镜

　　JEM-2100广泛应用于材料科学、纳米技术和生命科学等领域。

　　JEM-2100搭载Windows操作界面,操作更简单。并与STEM, EDS, CCD和EELS实现了一体化控制。

　　JEM-2100高度稳定性的测角台设计先进，非常适于包括3位重构在内的样品台倾斜。选用日本电子专用软件，可以轻松实现3D观察。 压电陶瓷控制样品台也独步天下。

　　The JEM-2100 采用3级聚光镜设计在任何束斑尺寸下都可以提供高亮度电子束，大大提高了分析和衍射成像能力。

【典型应用举例】-- JEM-2100 透射电子显微镜