太赫兹衰减全反射测试,专门用于测试对入射的太赫兹光谱具有强烈吸收的样品。太赫兹波段的衰减全反射模块核心部件是一块高阻硅(HRSi)棱镜,HRSi在太赫兹波段(0.1-4THz)具有平坦且很高的折射率,在0.1-4THz,HRSi折射率约为3.416。
如下图所示,太赫兹光束经过高折射率的高阻硅(HRSi)棱镜,入射到小折射率的样品上,在样品与高阻硅(HRSi)界面全反射,此过程中,太赫兹(THz)光束会在样品中有一定的穿透深度,即全反射过程中产生的倏逝波会在样品中传播一段距离并zei终携带样品的信息反射出来。通过这种方法可以测试对太赫兹波吸收强烈、不能用常规透射或反射方法测试的样品(如生物样品、细胞蛋白质等)。