XRF8 全反射X射线荧光分析仪技术特点

【技术特点】-- XRF8 全反射X射线荧光分析仪

主要特点：

多元素同时分析：一次可分析近30种元素

检出限低：zei低绝对检出限：pg级(10^-12g)

zei低相对检出限：ng/mL级(10^-9g))

测量元素范围广：可以从11号元素Na到92号元素U

样品用量少：μL、μg级。粉末样品、悬浮液样品、有平面的固体都可直接进行分析，zei低检出限达到ng/g量级。可以进行无损分析，也可进行无标样分析：

测量时间短：一般在100秒~1000秒

输入功率小于500W

自动化程度高，操作方便

【技术特点对用户带来的好处】-- XRF8 全反射X射线荧光分析仪

【典型应用举例】-- XRF8 全反射X射线荧光分析仪