【技术特点】-- 阿美特克 扫描探针电化学工作站－显微镜

SECM是一个精密的扫描微电极系统，具有极高空间分辨率。它在溶液中可检测电流或施加电流于微电极与样品之间。SECM与EC-STM、EC-AFM具有互补性，EC-STM和EC-AFM是对溶液中样品表面进行原子级和纳米级成像分析，EC-STM和EC-AFM更多地展现了电化学过程的表面物理图像。而SECM则用于检测、分析或改变样品在溶液中的表面和界面化学性质。SECM具有高分辨率、易操作、测试样品更接近实际应用情况等特点，适用于分析研究各种实时和原位的电化学反应过程。EC-STM和EC-AFM强调的是结果，而SECM注重的是过程和结果。

SECM有很多潜在的应用，目前主要用于电沉积和腐蚀科学中的表面反应过程基础研究、酶稳定性研究、生物大分子的电化学反应特性以及微机电系统(MEMS)等领域。
SVP-SKP系统工作特点：
1．非接触测量，不干扰测定体系；
2. 对界面区状态的变化敏感，如材料表面和表面膜元素分布，
应力分布，界面区化学分布，电化学分布的变化；
3. 测定金属、绝缘膜下金属和半导体电位分布；
4. 10-12A~10-15A 数量级的极弱交流信号的测量，测定装置必须具
有很高的抗干扰能力；
5．在线（In-situ）图示样品微区电化学和样品表面变化过程等；
6．一维、二维和三维图示与分析（3D软件为选配）；
7．特别适用液相和大气环境下的材料表面和界面的微区显微分析。
SVP与SKP系统的结合
SRET和SVET主要测量材料在液体电解质环境下的局部电化学反应过程；SKP能够测量材料在不同湿度大气环境下，甚至其它气体环境下的微区特性及其随环境变化过程等。现在公司将用于液体电解质环境下的局部电化学反应过程的SVET和用于大气环境下的SKP技术有机的结合在一起，极大地拓展了您的研究领域，有效地利用资源，降低了您的购买费用。

MDI软件特性：
 控制：计算机控制探针移动、数字式/连续扫 描、扫描范围、速度、数据采集精度等；
 操作：简便易用、线性解码实时位移显示；
 测量：先扫描后数据采集、面扫单轴可高达70,000数据点;
 结果：ASCII数据文件；2D和3D彩色图像显示和输出（3D软件选项）

【技术特点对用户带来的好处】-- 阿美特克 扫描探针电化学工作站－显微镜

【典型应用举例】-- 阿美特克 扫描探针电化学工作站－显微镜