SAXSess mc2 X射线结构分析仪_ 参数_指标_优点_优势

参数指标

X-射线源	密封管（线和/或点准直）微聚焦光源
X-射线光学元件	多层分级聚焦镜先进的线和点准直器
样品台自动进样器	TCS 温度控制样品台 VarioStage 用于高通量筛选液体样品的 ASX 的自动进样器用于粉末和薄膜样品的湿度样品槽
温度范围	-150 °C 到 300 °C；± 0.1 °C
样品槽	石英毛细管液体样品槽固体样品槽粘性和粉末样品槽流动样品槽微量样品槽旋转样品槽
光束遮挡器	半透明精确地高度和倾斜角度调节
测量时间	< 1 至 30 分钟
探测器	影像板探测器（2D 数据采集） CCD 探测器（2D 数据采集）二极管阵列探测器（1D/2D 数据采集）
可测得的 q 值范围	q_min：0.03 nm^-1 到 q_max：28 nm^-1 （对应 200 nm > d > 0.1 nm）
尺寸	占地面积：1.1 m x 1.8 m
软件	SAXSquant 数据采集和分析软件先进的数据解析软件

技术参数：

测量范围：0.2 ~ 200 nm
X-射线光源：标准：密封管（线聚焦和/或点聚焦），其它光源：可选。
光束尺寸：线光源为20 × 0.3 mm²，点光源为0.3 × 0.3 mm²。
工作电压：40 kV
工作电流：50 mA
样品量：固体只需几毫克，液体zei少只需7微升。
样品温度的可调节范围：-150 ~ 300℃，灵敏度为± 0.1 ℃。
测试时间：1 ~ 60 min。

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