AFS-9780全自动四灯位...
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技术指标

 

元   素

As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn

Hg、Cd

Zn

Ge

Au

精密度RSD

检出限D.L(µg/L)

<0.01

<0.001

<1.0

<0.05

<3.0


    <0.7%



线性范围：大于三个数量级      测试时间：小于45秒


采用两通道合并技术提高了原子荧光信号强度，进一步改善了仪器的检出限。

对于超痕量分析有明显改善,从而提高了检出限。


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