【技术特点】-- F40 -UV 薄膜分析仪

微米(显微)级别光斑尺寸厚度测量

当测量斑点只有1微米（µm）时，需要用您自己的显微镜或者用我们提供的整个系统。

F40 系列

将您的显微镜变成薄膜测量工具

F40 产品系列用于测量小到 1 微米的光斑。 对大多数显微镜而言，F40 能简单地固定在 c 型转接器上，这样的转接器是显微镜行业标准配件。

F40 配备的集成彩色摄像机，能够对测量点进行准确监控。 在 1 秒钟之内就能测定厚度和折射率。 像我们所有的台式仪器一样，F40 需要连接到您装有 Windows 计算机的 USB 端口上并在数分钟内完成设定。

包含的内容：

• 集成光谱仪/光源装置

• FILMeasure 7.0 软件

• FILMeasure 独立软件 (用于远程数据分析)

• MA-Cmount 安装转接器 显微镜转接器

• 光纤连接线

• BK7 参考材料

• TS-Focus-SiO2-4-10000 厚度标准 聚焦/厚度标准

• BG-Microscope (作为背景基准)

额外的好处：

• 每台系统內建超过130种材料库, 随着不同应用更超过数百种

• 应用工程师可立刻提供帮助（周一 - 周五）

• 网上的 “手把手” 支持 (需要连接互联网)

• 硬件升级计划

Filmetrics F40薄膜测厚仪
世界一流,经济有效的Filmetrics薄膜厚度测量系统,测量薄膜厚度仅需几秒钟。Filmetrics系列膜厚测试仪拥有单点测量、显微镜斑点测量、自动测绘系统、在线监测等功能型号的膜厚测试仪产品。Filmetrics 膜厚测试仪产品轻点鼠标就能测量1纳米到13毫米的单层薄膜或多层薄膜堆厚度。几乎所有的材料都可以被测量。直观的设计意味着您能在几分钟内完成第一个薄膜厚度测量！

Filmetrics F40主要用于测试各种透明半透明的膜厚.

产品简介：
可安装在任何显微镜外，有三种不同波长选择(波长范围从可见光400nm至近红外1700nm)；
测量的薄膜厚度范围从20nm 到 20um，精度为 0.1nm 。可提供zei小10um光点(50倍放大倍数)来测量微小样品。

产品特性：
操作简单、使用方便；
测量快速、准确；
体积小、重量轻；
价格便宜。

产品应用：
半导体行业: 光阻、氧化物、氮化物；
LCD 行业: 液晶盒间隙厚度、 Polyimides；
光电镀膜应用: 硬化膜、抗反射膜、滤波片.

【技术特点对用户带来的好处】-- F40 -UV 薄膜分析仪

【典型应用举例】-- F40 -UV 薄膜分析仪