Bruker Dimension Icon 原子力显微镜技术特点

【技术特点】-- Bruker Dimension Icon 原子力显微镜

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• 最高分辨率成像 -无论何时，不论哪次

• 最完整的纳米尺度定量信息

• 潜力无限 – 灵活，开放

• 超乎想象的简单

Dimension Icon

最高分辨率成像—无论何时，不论哪次

使研究人员通过PeakForce Tapping®技术能够随时得到高分辨率的图像。

在样品上每个原子实现力扫描。

在感兴趣的位置操作获得高分辨率图像。

点缺陷的高分辨三维尺寸和机械性能成像

释放带宽实现更快成像

通过快速轻敲，不降低效果的同时增加扫描速度

经由自适用扫描选项达到nm级粗糙度样品上4倍速度的提升

在氧化硅片上快速轻敲

采用双向扫描选项即刻实现成像速度翻倍

在ITO上快速轻敲

采用布鲁克专有的高速探针，结合已知最佳规程（BKM）可将扫描速度提高10倍

FastScan-C Probe

最完整的纳米尺度定量信息

使研究人员能够通过经常PeakForce Tapping®获得高分辨率图像。

可信的纳米级粘弹性表征

以伪彩示意损耗模量，叠合以三维形貌数据。蓝色区域有较高的损耗模量，红色区域则较低，分别对应于聚苯乙烯（PS）基质和聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA）掺入物。损失模量数据图通过接触共振原理的布鲁克FASTForce Volume纳米力学模式获得。5微米扫描范围，~ 590kHz, 256x256点采集。

常规地获得高质量力学性能数据。

间列聚丙烯畴（紫色）被聚甲基丙烯酸甲酯（蓝绿色）基体包围。在形貌数据上叠合模量数据可简易地区分组分，显示出间列聚丙烯薄片在PMMA基体中扩展。图像尺寸8微米。

获取纳米力学和纳米化学数据的高级AFM研究

在之前不可能研究的样品上研究电学性能。

直立碳纳米管的电流成像。唯有PeakForce TUNA®可得到。

获取整体力学数据，从而全面表征接触力学机制。

左：通过PeakForce Capture™获取原子级力立方，显示垂直截面上单颗原子的位置。右：PeakForce Capture平均数据显示出可溶解结构的的证据。

实时研究原子化学信息。

峰值力轻敲高度像（左）和力曲线（右），显示了表面原子排列以及在方解石和云母上样品-探针间原子级相互作用的差异。

潜力无限—灵活，开放

使研究人员通过PeakForce Tapping®技术获得高分辨率图像。

先使用已有的测量模式；如果没有，创造一个。

在开放的平台上直接进行改造， 与其它技术联用。

左：手套箱中的原子力显微镜-拉曼联用。右：光导AFM附件

直接控制软件和硬件，选择一个最容易的方法：串行通讯端口，信号测试盒，Nanoman/Litho和力脚本等。

左：通过COM口连入NanoScope软件的仪器集成实例。右：在C++中进行NanoScript编程

超乎想象的简单

ScanAsyst® 图像优化软件，让所有使用者能够获得专家级结果。

NanoScope®世界上最被认可的，被引用最多的原子力显微镜。

　　结合Veecozei新的行业领先的针尖-扫描AFM技术，Icon的温度补偿定位传感器使Z轴的的噪音水平达到亚-埃米级，X-Y方向达埃米级。在大样品台、90微米扫描范围系统的仪器当中，这种表现是非常突出的，优于绝大部分的开环、高分辨率AFM系统的噪音水平。

　　Icon不仅具有非常好的分辨率，它还具备许多新的特性，以增加新老AFM用户操作仪器的便捷性及出图像速率：

　　• zl设计的扫描管，实现闭环扫描功能同时，具有开环扫描管的噪音水平，在大样品AFM系统中实现前所未有的分辨率

　　• 全新设计的XYZ闭环扫描管，在不影响图像质量下具有非常高的扫描速度，具有非常快的数据采集能力

　　• zei新的NanoScope软件版本，提供直观的操作流程及默认实验模块，将复杂的AFM操作流程转化为预先设置

　　• 高分辨率的照相机及X-Y定位，实现更迅速、更有效的样品定位

　　• 完全开放的针尖及样品环境，适用于绝大部分的标准或定制实验

　　• 硬件及软件设置适用Veeco现有的及即将推出的所有模式及技术，包括现有的zei先进的HarmoniX纳米材料性能成像模式

【技术特点对用户带来的好处】-- Bruker Dimension Icon 原子力显微镜

【典型应用举例】-- Bruker Dimension Icon 原子力显微镜