主要特点:
>基于微悬臂的扫描近场光学显微镜,操作简单,可提供AFM的功能;
>探针结构坚固;
>高敏感度的干涉偏转探测方法,可进行高质量的AFM成像;
>优化的反射模式
可进行如下的测量:
>自动的高分辨率形貌成像和光学反射测量;
>复杂纳米结构、单分子和单量子点的研究;
>材料科学研究,如陶瓷、聚合物、添加剂和合金等