技术参数:
1. 采用PI平板压电扫描器,无管式压电管的bow效应,能同时进行光学显微镜与原子力显微镜量测
2. zei大扫描范围:100×100×15微米(闭环)
3. 探针扫描设计,液相量测情况下不会损坏压电陶瓷
4. 分辨率:云母晶格图像(接触模式、高解析模式)
5. 针尖定位噪声水平(RMS)
大气条件下:垂直方向小于0.08nm,水平方向小于1nm(闭环);
液相条件下:悬臂偏移小于0.3nm(弹性系数0.03N/m,温度20摄氏度)
6. zei先进的电容式探针位置传感器,全程xy扫描线性化达0.03%,保证探针的重复定位与长时间稳定定位
7. 智能马达进针,漂移跟踪设计消除样品加热膨胀的影响
8. xyz三轴扫描方向硬件线性化设计提供了高端的量测性能
9. 采用850nm波长激光源,不会影响匹配倒置光镜的光学量测
10. 探针弹性系数的热噪声方法自动校正
样品台移动范围: 200mm×200mm或可选更大
样品尺寸: 直径大于140mm或可选更大
定位检测噪声:小于0.15nmRMS in XY (closed loop)