XRF痕量元素分析及镀层测厚仪 (X-Strata980)技术特点

【技术特点】-- XRF痕量元素分析及镀层测厚仪 (X-Strata980)

　　电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比，从而降低检测下限。

　　探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。

　　超大探测器灵敏窗口大幅提高了计数率——大多数的分析能在数秒或数分种内完成。

　　灵活组合运用五个初级滤波器，使X光管激发效率达到zei佳，得到zei优的应用效果。

　　仪器测量直径zei小可达到150微米。可供选择的准直器直径有0.1、0.2、0.3和1.27毫米。

　　特别设计的铝钛板在检测轻制样品时能大幅降低背景噪音，从而达到更低的检测下限。

　　数据导出高级选项

　　数据统计功能强大，包括平均值、标准偏差、柱状图和管理图表。

　　数据实时导出，可以保存为Excel格式，并快速生成分析报告。

　　用户能设置快捷键，对样品进行一键校准。

　　用户界面提供9种操作语言

　　自由距离测量及超大型样品舱

　　大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品。

　　可在0.5”至 3.5”(12.7mm to 88.9mm)范围内自由调节聚焦距离，来实现对样品不同表面的测量。

　　样品舱内部空间580mmx510mmx230mm 。

　　封闭样品舱设计能彻底防止辐射污染，特别针对塑料等轻质样品的检测过程而设计。

　　大舱门使样品更易放入。

【技术特点对用户带来的好处】-- XRF痕量元素分析及镀层测厚仪 (X-Strata980)

【典型应用举例】-- XRF痕量元素分析及镀层测厚仪 (X-Strata980)