EDX200 X荧光光谱仪
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  主要技术指标:

  能量色散X射线荧光分析法

  分析元素 Si~U(Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型)

                   Na~U(任选:φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型)

  检出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm

  样品形状 460×380mm(高150mm)

  样品: 粉末 固体 液体

  靶材Rh X射线管管电压≦50KV 管电流≦1mA X射线照射径1/3/5mm

  防护<0.1mR/Hr(辐射低于电脑屏幕)

  内置高清摄像头

  定性分析:自动定性(自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移)

  软件照射径:1/3/5mm

  定量分析:基础参数法/标准法/1点校正

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