主要技术指标

　　1、分析元素：Na-U，主要是Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、V、Fe、Ni、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn、Sb、Ast等。

　　2、分析范围：1ppm-99.99%。

　　4、同时分析：30种元素同时分析。

　　5、能量范围：1-50keV。

　　6、测量时间：1-2 分钟可以完成全部待测元素的含量分析。

　　7、进口电制冷半导体探测器的分辨率：130ev。

　　8、 管电压：0-50Kv 管电流： 1～2000 μA。

　　9、仪器的分析精度：标准偏差≤0.08%。

　　10、分析误差：优于国家标准要求。

　　11、辐射剂量：<25μsv/h。

　　12、环境温度要求：15℃-35℃。

　　14、工作电源：交流220±10%、50、60Hz。

　　主要配置

　　1、探测系统

　　探测器

　　类型：电制冷SDD探测器

　　Be窗厚度：50um

　　zei佳分辨率：130eV

　　能量响应范围：1keV-50keV

　　2、X光管(用于X射线能谱仪)

　　电压：0～50kV

　　zei大电流：1.0mA

　　zei大功率：50W

　　灯丝电压：2.0V

　　灯丝电流：1.7A

　　射线取出角：12°

　　靶材：Mo

　　Be窗厚度：0.5mm

　　3、高压电源

　　电压范围：0-50kV连续可调，采用数字显示

　　输入电压：DC+24V±10%

　　输入电流：4.0A(zei大)

　　输出电压：0-5KV & 1mA

　　zei大功率：50W

　　电压调整率：0.01%(从空载到满载)

　　电流调整率：0.01%(从空载到满载)

　　纹波系数：0.1%(P-P值)

　　8小时稳定性：0.05%

　　4、真空泵

　　真空度：真空测试20Pa极限真空2Pa