INNOV-X 钼矿石分析仪...
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  技术参数

  仪器重量:1.5Kg;外形尺寸:245x250x88mm。

  激发源:高性能微型X射线管,Ta、Rh靶;zei大40KV/200uA。

  探测器:高灵敏度超大型SDD硅漂移探测器。

  滤波器:八个滤光片可自动切换。

  处理器:532MHz CPU、500MHzFreescal双核、ARM浮点运算方式1136-MX31处理器。

  系统CPU外设:采用USB总线, I2C,GPIO,蓝牙,加速器,实时的时钟芯片,微型SD 存储卡 (可存储2GB 数据),GPIO 条带连接到扳机和PSM。

  数据存储:ROM128M、RAM128M、2G SD卡,可存储205000组数据与光谱。

  操作系统:用户化windows CE 6.0系统,文件采用TXT、EXCEL格式输出。

  显示器:工业级高分辨率、带重力感应自动旋转TFT QVGA卡西欧 BlanView® 触摸显示彩屏,带LED背光;像素240×320。

  显示器固定方式:内置一体设计,整机连体构造,可防尘,防水,故障低。

  显示器可视性:显示器无LCD高原反应,室内低光源与强光环境下均有优异可视性,能耗低(是传统二分之一能耗)。

  电源:2块锂电池,110V/220V通用充电器,充电器适配器,智能接驳座。

  冷却系统:采用了Peltier恒温冷却系统,控测器在-35℃下工作,保证仪器的检测精度不受外界温度的影响。环境工作温度-10℃ ~50℃。

  光谱束:五个光束段,不同元素采用不同电压与电流,产生zei好的分析效果。

  气压补偿:内置气压计,不同海拔能自动补偿,可在高原恶劣环境下作业。

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