乌克兰Elvatech（伊瓦特）台式荧光光谱仪 ElvaX light SDD参数指标

　　ElvaX 参数及配置

　　X射线发生器

　　X射线管：阳极钨（W）靶或银（Ag）靶，铍窗，空气致冷

　　X射线发生器：4-50 KV (以步进0.1 kV 方式调节)，0-100 μA以步进0.2 μA），zei大功率 5W

　　滤波片：多达5 位主滤波片更换

　　X射线探测器

　　探测器 Si-PIN 二极管，电致冷 (可选配硅漂移探测器SDD)

　　分辨率： 160 eV@5.9KeV (使用SDD 时，<140 eV)

　　有效面积 6 mm (或选配25 mm )

　　软 件

　　操作软件： ElvaXTM 分析软件，可在Microsoft WindowsTM XP,Vista 或Windows 7 下运行

　　控 制： X射线源输出，数据采集系统参数，样品和滤波片选择（可选）

　　光谱处理： 谱峰自动查找，谱峰反卷积处理，背景扣除，元素自动识别，扣除背景的净峰强度

　　定量分析算法： 基本参数法，二次多元逐步回归分析，手动光谱比较数据采集时间：10–1200 秒

　　脉冲处理：数字式脉冲处理器，基线恢复，脉冲堆积判弃，上升时间鉴别，计数率自动适应

　　自动进样器（选配）

　　使用规格

　　尺寸/重量： 标准尺寸： 43 cm X 34 cm X 20 cm, 18kg

　　 较大尺寸： 50 cm X 50 cm X 38 cm, 35kg