【技术特点】-- 全反射X射线荧光光谱仪

仪器简介：

STX 2000是一种独特的光谱仪，它可以在全反射和传统几何光路（入射角45度）的两种光路下进行能量色散X射线荧光分析

主要特点：

 无基体效应
 单一的内在标准大大简化了定量分析
 校准和量化独立于任何样品
 同步多元素超痕量分析
 几种不同样品类型和应用
 测量仅需要极少量的样品（5ml）
 独特的液体和固体样品微分析
 卓越的元素检测范围（ppt或pg），从钠到钚
 出色的动态范围从百万分之一到百分之一
 可以对未进行化学预处理的样品直接进行分析
 无记忆效应
 非破坏性分析
 低运行成本

【技术特点对用户带来的好处】-- 全反射X射线荧光光谱仪

【典型应用举例】-- 全反射X射线荧光光谱仪