仪器配置:

　　X射线衍射仪采用金属陶瓷X光管、样品水平测角仪(θ-θ)、正比(PC)或闪烁(SC)探测器

　　集成测量附件(可选件)：广角测角仪。其上集成附件可以进行织构、应力、薄膜、定量分析等测试，每一种测试功能都有相应的计算软件。

　　主要软件：仪器数据常规数据处理软件，可自动寻峰、手动寻峰、积分强度、Kα1、α2剥离、背景扣除、平滑、峰形放大、多重绘图、3D绘图、已知晶体理论结构，模拟出XRD衍射谱图等。

　　仪器参数:

　　χ射线发生器：标定功率：4kW, 管电压：10—60kV, 稳定度：≤0.01%. X射线防护散射线计量：≤1μSv/h(X射线防护罩外)

　　  X射线管：Cu、Fe、Co、Cr、Mo等 功率：2kW、2.4 kW 焦点尺寸：1×10mm2或是0.4×10mm2

 

　　测角仪：卧式θ—2θ, 衍射圆半径：185mm(可调节到285mm),

　　    角度测量范围：0—164˚

　　    扫描速度：0.06°—76.2°/min连续设定

　　    扫描方式：θ—2θ联动、θ、2θ单动；连续或是步进扫描

　　    采用步进电机控制测角仪转动，自动消空程和角度校正及扫描速度设定等

　　    θs、θd角zei快转动速度：120˚/min

　　    zei小步进角度：0.001˚

 

　　探测器：正比(PC)或闪烁(SC)

　　    zei大线性记数率：5×10⁵CPS(带有漏计数补偿功能)

　　    能量分辨率：≤25%(PC)、≤50%(SC)

　　    计数方式：微分或是积分方式、自动PHA、死时间校正

 

　　整机参数：系统测量稳定度：≤0.01%

　　                  仪器综合稳定度：≤0.5%

　　                  角重复精度：≤0.001˚、准确度优于0.005˚

　　                 SIO2分辨率不大于60%°、SI分辨率不大于95%