SurfaceSeer系列飞行时间二次离子质谱仪参数指标

SurfaceSeer-I能以正负TOF-SIMS模式产生“化学地图”，其分析的空间分辨率约为0.5微米，质量分辨率优于3000（3000以上）。

SurfaceSeer-S是以正负TOF-SIMS模式进行分析研究的“利器”，质量分辨率优于2500（2500以上）。

The SurfaceSeer-S: 用TOF-SIMS做表面分析