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Thermo Scientific™ ARL QUANTX EDXRF 光谱仪提供出色的痕量分析灵敏度，打破了1纳米的检测限瓶颈。
专为满足实验室和制造环境中极具挑战性的分析需求而设计，ARL QUANTX EDXRF 光谱仪的功能和灵活性可zei大程度提高各种元素分析应用的分析量。
能量弥散 X 射线荧光 (EDXRF) 分析技术可通过简易的样品制备，实现主量、次量和痕量元素分析，所分析样品范围广泛，可以是固体、颗粒、粉末、薄膜和所有形式的液体。
先进的技术
独特的 Peltier 电制冷 Si (Li) 检测器 数字脉冲处理 (DPP) 技术 高性能、多元素分析
主要功能
出色的痕量分析灵敏度 高分析量的进程控制 适用于异常材料的高级分析算法 出色的样品处理灵活性 机械简化和灵活性 占地面积小、易于运输以进行野外测量 快速、简易的安装以及可完全现场定制
随附完整的实验室启用套件 经验证的硬件和全套软件 现场、协同方法开发 完整的技术应用支持 汇集了数百种应用的专业知识
功能强大、易于使用的 WinTrace™ 软件
无标和半无标分析 基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法 多层厚度及成分 不限元素、不限数量的标样 利用自动化操作实现多个激发条件
悬浮颗粒物过滤器 符合 RoHS 及 WEEE 的分析 法医及痕量分析 营养补充剂 磁性介质和半导体 土壤污染 过滤器上的薄膜 塑料中的有毒元素
应对RoHS指令 ――快速分析
1.超大Si(Li) 晶体，具有极高的痕量分析的灵敏度，打破l ng的检测限壁垒
2.全数字脉冲处理器技术，死时间达60%， 以及优异的峰背比
3.高级FP无标样分析软件，进行无标样分析，减少对标样的依赖性
4.高灵敏电制冷Si(Li) 探测器技术，仪器免维护和零费用运行
5.超大样品室，可容纳300mm×400mm的样品
6.全自动校准，自动监测，自动报警系统，完全计算机控制
7镀层和薄膜测量技术, 具有无标样分析测厚技术
2009年发布上一代
2017年3月Pittcon更新为zei新一代
参考成交价格：