TM系列专用能谱仪（EDS） Quantax75技术特点

【技术特点】-- TM系列专用能谱仪（EDS） Quantax75

操作简单且直观

• * :和TM4000Plus搭配应用实例

• * :探测器内置型

• (制造商: 德国Bruker nano GmbH)

特点

通过简单操作即可迅速获取彩色X射线面分布

移动到指定位置，可实时确认其谱图

双屏显示

仅需选择图像和模板，即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同时，实时显示点分析、线分析结果等多种分析。

超高的性能（hyper map）成就了一次测试即可获取点分析、线分析、面分布结果

点分析

可根据点位置移动实时追踪谱图，轻松确认目标元素。

实时在线谱峰剥离面分布

分离出常规面分布图像中的谱峰重叠元素，并显示正确结果。

规格

検出器

项目	内容
探测器类型	硅漂移探测器
探测器面积	30 mm2
能量分辨率	148 eV (Cu-Kα) (Mn-Kα时不高于129 eV)
可检测元素	B5～Cf98

【技术特点对用户带来的好处】-- TM系列专用能谱仪（EDS） Quantax75

【典型应用举例】-- TM系列专用能谱仪（EDS） Quantax75