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JEM-2800 是一台性能极高，能兼顾高分辨率观察和快速分析的TEM/STEM装置。
包括SEM 的多种观察模式适合于各种样品
JEM-2800采用新设计的电子光学系统，能兼顾高分辨率观察和高通量分析，观察模式如TEM（透射像）、STEM（扫描透射像）、SEM（二次电子像）及ED（电子衍射）模式可在瞬间相互切换，还能在明亮的房间观察图像。此外，扫描图像模式可以同时观察STEM-BF像、STEM-DF像和二次电子像。利用这些功能，操作者可根据目的，利用感兴趣的观察模式快速获得从大范围的样品结构到亚纳米的晶格像。
自动功能和用户导航支持高效率的操作环境
JEM-2800具有电镜观测所需要操作的各种自动功能（自动衬度/亮度调整、样品高度（Z）调整、自动晶带轴调整、自动聚焦及自动消象散），这些功能可以使操作者不受熟练程度影响，获取重现性好的数据。 此外，由于标准配置了涡轮分子泵，换样时间缩短为30秒钟后。为使初学者也能够放心地正确操作，还标准配置JEM-Navi™用户导航系统，提供获取数据所需要的操作指南和视频。
通过大面积100mm2的SDD进行快速分析
JEM-2800不仅可以进行高分辨的观察，还能进行高通量的元素分析，由于采用日本电子制造的100mm²大面积硅漂移检测器（Silicon Drift Detector：SDD）*1，能够获得0.95sr 的大固体角，可以进行高速高效的X射线分析并且不牺牲电子显微镜的功能。此外，为了能在短时间内获得准确的分析结果，JEM-2800能根据样品及分析方法选择zei佳的束班直径。
*1 : 选配
支持数据的集成管理和报告书的生成
为响应众多客户的需求，JEM-2800采用总体数据管理系统，能够迅速生成分析结果报告。JEM-2800获取的图像和分析数据通过LAN（局域网）会自动传送到数据集成管理软件（Image Center*2）。此外，从PC客户终端访问，可以高效率执行测长（使用Image Excite*2）及粒径分析（使用Region Gauge Center*2），通过数据整理软件（Image Import※2）能简便地生成报告书。
*2 : 日本株式会社SYSTEM IN FRONTIER 制造
参考成交价格：