返回 日本电子JSM-7200F扫... 返回 日本电子JSM-7200F扫... 
我要纠错
| JSM-7200F | JSM-7200FLV | |
| 分辨率 | 1.0 nm(20kV)，1.6 nm(1kV) | 1.0 nm(20kV)，1.6 nm(1kV)，1.8nm (30kV, LV ) |
| 放大倍率 | ×10～×1,000,000(120mm x 90mm photograph size); ×30～×3,000,000(1280 x 960pixels display); | |
| 加速电压 | 0.01kV～30kV | |
| 束流 | 1pA～300nA | |
| 自动光阑角zei佳控制透镜ACL | 内置 | |
| 大景深模式 | 内置 | |
| 检测器 | 高位检测器(UED)、低位检测器(LED) | |
| 样品台 | 5轴马达驱动样品台 | |
| 样品移动范围 | X：70mm Y：50mm Z：2mm～41mm 倾斜－5～＋70° 旋转360° | |
| 低真空范围 | - | 10pa～300pa |
主要选配件
可插拔式背散射电子探头（RBED）
高位二次电子探头（USD）
低真空二次电子探头（LV-SED）
能谱仪（EDS)
波谱仪（WDS）
电子背散射衍射系统（EBSD)
阴极荧光系统（CLD）
样品台导航系统（SNS）
电子束曝光系统
| 分辨率 | 1.6 nm (加速电压1 kV), 1.2 nm (加速电压 30 kV) 3.0 nm (加速电压15 kV, WD 10 mm, 探针电流 5 nA /分析条件) |
|---|---|
| 倍率 | ×10 to ×1,000,000 |
| 成像模式 | 二次电子图像，背散射电子图像 |
| 加速电压 | 0.01 - 30 kV |
| 探针电流/电子束流 | 1 pA - 300 nA |
| 电子枪 | 浸没式肖特基场发射电子枪In-lens Schottky field emission gun |
| 马达控制 | 5-轴马达驱动 |
| 样品台移动 | X – Y : 35 mm x 50 mm, Z: 2.0 - 41 mm Tilt: – 5 - 70°, 旋转: 360° 无限制 |
| 样品交换室 | 包括在标准配置中 |