科研级压裂支撑剂比表面及孔径仪性能参数：

仪器型号：JW-BK200C 微孔bet比表面积分析仪

原理方法：静态容量法，低温氮吸附；

测试功能：等温吸脱附曲线；单点、多点BET比表面积；Langmuir比表面积；外表面积（STSA）；吸附总孔体积、平均孔径；BJH介孔大孔孔容积及孔径分布分析；t-plot法、αs- plot法、DR法、MP法微孔常规分析；HK法、SF法微孔精确分析；NLDFT法孔径分布分析；真密度测试；气体吸附量、吸附热测试；质量输入法测试；

测试气体：氮、氧、氢、氩、氪、二氧化碳、甲烷等；

测试范围：比表面0.0005m2/g至无上限，孔径3.5 nm-5000 nm； 

          孔体积测试范围:0.0001cc/g至无上限；

重复精度：比表面积≤± 1.0%，孔径≤0.2 ?；

测试效率：比表面积平均每样15min；介孔、大孔分析平均每样2-3小时；微孔分析平均每样5-8小时；

分析站：2个完全独立微孔分析站，双站可同时进行测试；

P0位：2个完全独立P0站；

升降系统：2个样品分析站原位设有2套独立的升降系统，电动控制、自动控制，且互不干扰；

真空系统：多通路并联抽真空系统，集装式模块化设计，真空抽速微调阀系统zl技术，可在2-200ml/s范围内自动调节；

真空泵：外置式进口双级旋片式机械真空泵（自动防返油）+ 内置式进口涡轮分子泵，极限真空度可达10-6Pa；

脱气系统：同位、异位真空脱气预处理系统标准化设计，由单独的进口压力传感器控制，完全同分析位分开，可实时、准确测量脱气系统的真空度：2个独立加热包，2套独立温控表，均可程序升温控制，升温阶数多达10阶，既可进行样品的同位脱气处理，也可进行样品的异位脱气处理；2个样品进行分析测试的同时，可以进行另外两个样品的真空脱气处理；

脱气温度：室温—400℃，精度±1℃；

压力传感：原装进口，1000torr、10torr、1torr，精度≤± 0.15％（读值）；

分压范围：P/P0 10-8-0.998； 

压力控制：平衡压力智能控制法，压力可控间隔＜0.1KPa，吸附 高压力点可自动控制；

数据采集：以太网数据采集，采集速度快、精度高，兼容Windows 7/XP 32/64位系统；