相较于采用聚合物窗口的探测器,采用 Si3N4 窗口的 Octane Elect SDD 在透过性能方面有了极大改进,轻元素性能得到大幅提高,使材料分析人员获得更多关键数据。
氮化硅的机械特性允许使用具有低环径比支承格架的更薄窗口,有利于提高低能段灵敏度和优化低电压分析。
用于面分布和定量的快速脉冲处理
所有计数率下优化的数据质量
面分布速度高于 400,000 输出 cps 情况下的高分辨率定量分析
配备先进检测电子元件的 EDAX EDS 系统可提供市面上最高的产率,从而实现最佳分析并提高生产力。
SDD 的设计采用了 Si3N4 窗口,其出色的材料性能和耐用性为所有 EDS 应用带来最坚固可靠的探测器。独特的设计意味着它们耐腐蚀且耐冲击,并且适合于等离子清洗。
智能诊断和智能采集功能有助于优化收集和分析条件
智能脉冲堆积修正功能可最大限度减少高计数率收集的常见问题,并充分有效地利用 SDD 技术
快速相分布程序(zl申请中)和材料相库
智能诊断
智能采集
EXpert ID
智能面分布
智能数据管理