【技术特点】-- 高性能多通道全自动比表面与孔隙分析仪TriStar® II 3020系列

　　分析方法包括

　　♦全吸附、脱附曲线（吸附脱附曲线都做到1000 个测量点）

　　单点或多点BET 比表面积

　　♦Langmuir 比表面

　　♦平均孔尺寸和单点总孔体积

　　♦BJH 吸附/脱附曲线，中孔、大孔信息

　　（体积、面积分布）

　　♦Harkins Jura 厚度层公式

　　♦Halsey 厚度层公式

　　♦中孔和大孔体积、面积对孔径分布

　　♦NLDFT 非定域密度函数理论

　　♦总孔体积♦Validation reports

　　♦ 专为企业服务的SPC（Statistical Process Control 统计过程控制）报告。

　　♦ Dollimore-Heal adsorption and desorption

　　♦ Kruk-Jaroniec-Sayari correction

　　♦de Boer t-plot（数据处理微孔体积和表面积，厚度公式）

　　♦αs－plot ♦f-ratio

　　♦MP 法，Harkins Jura 厚度层公式，Halsey 厚度层公式，

　　♦Kruk-Jaroniec-Sayari correction

　　♦STSA 碳黑外比表面

　　♦DFT 和比表面能分布( 密度函数理论)

　　♦summary report 总结报告

【技术特点对用户带来的好处】-- 高性能多通道全自动比表面与孔隙分析仪TriStar® II 3020系列

【典型应用举例】-- 高性能多通道全自动比表面与孔隙分析仪TriStar® II 3020系列