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PHI nanoTOF II飞行时间质谱仪™
TRIFT-V nanoTOF II(三次聚集飞行时间)二次离子质谱仪是超灵敏的表面分析技术，可检测表面分子成分和分布，元素及其同位素。所有元素和同位素，包括氢都可以用飞行时间二次离子质谱分析。由初级脉冲离子束轰击样品表面所产生的二次离子，经飞行时间分析器分析二次离子的荷质比，从而得知样品表面信息。
PHI nanoTOF IITM是第五代SIMS仪器，该仪器具有独特的zl飞行时间（TOF）分析仪，它拥有市场上TOF-SIMS仪器中最大的角度和能量接收范围，它使用了具有优良离子传输能力的三级聚焦半球形静电分析器，实现了高空间分辨率和质量分辨率。PHI nanoTOF IITM还具有很高的成像能力，可以表征形貌复杂的样品而没有阴影效应。
特点：立体收集角度大和深景深 二次离子以不同的初始能量和角度 从样品表面飞出,因此,即使是质量 完全相同的离子,在分析仪内的飞行 时间也会产生差异,飞行时间差是导 致质量分辨率变差的原因之一。 NanoTOFⅡ采用的是三重聚焦静电分 析仪（TRIFT型）,可以同时矫正由初 始能量和发射角的差异而发生的飞行 时间差异而发生的飞行时间差。 TRIFT型分析仪的最大的优势,就是同时实现了高质量分辨率和高检测灵敏度，并且成像没有阴影。 |
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