蔡司ZEISS裂变径迹显微分析系统技术特点

【技术特点】-- 蔡司ZEISS裂变径迹显微分析系统

◆zei佳优化的操作理念

◆拥有更高衬度和更高分辨率的新型光学系统

◆全自动Z轴自动聚焦模块

◆保证zei大稳定性和免振动工作的创新设计

◆统计辐照单矿物的裂变径迹数，分析计算矿物表观年龄，并模拟地质体热演化历史

【技术特点对用户带来的好处】-- 蔡司ZEISS裂变径迹显微分析系统

【典型应用举例】-- 蔡司ZEISS裂变径迹显微分析系统