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化学电离高分辨率飞行时间质谱仪（英文名：Chemical Ionization High-Resolution Time-of-Flight Mass Spectrometer；英文缩写：CI-HR-ToF-MS，别称：CIMS）是由位于美国马萨诸塞州比尔瑞卡市（Billerica, Massachusetts, USA）的“飞行器研究”公司（Aerodyne Research, Inc.）制造。通过化学电离方法，该仪器能够实时、定量、在线测量环境大气中多种无机和有机痕量组分及大气离子，具有高速、高精确性、高分辨率和高灵敏度的优势。与大气离子进样器（Atmospheric ion sampling inlet）连用，可直接测量大气离子。如果同气体和气溶胶过滤近样口（Filter Inlet for Gas and Aerosols, 简写：FIGAERO）连用，该仪器可以实现同时实时在线测量大气中微量气体、分子簇和气溶胶颗粒物的化学组分。
图 1 . CIMS 实物照片
尺寸/重量：38 cm L x 56 cm W x 81 cm H
实时、连续、在线测量环境大气中多种无机和有机组分及大气离子。如果同气体和气溶胶过滤近样口（FIGAERO）连用，该仪器可以实现同时实时在线测量微量气体、分子簇和气溶胶颗粒物的化学组分的。
用于实验室，外场，或基于移动平台的观测实验
用于气候变化和空气质量研究
分析人类呼吸中的化学组分
CI-HToFMS主要由进样口、离子分子反应腔（IMR）、大气常压界面（API，内含三级差压真空系统，碰撞去簇室（CDC），RF和DC聚焦光学系统）、高分辨率飞行时间质谱仪以及数据采集系统五部分组成。
图 6. CIMS 工作原理示意图
CI-HToFMS的工作原理（化学电离模式）如图所示：
样本大气从进样口进入离子分子反应腔（IMR），同时离子源产生的离子也进入离子分子反应腔，发生特定的离子-分子反应；
试剂和产物离子经过大气常压界面（API），被内置的RF和DC聚焦光学系统聚焦成一个细小的离子束，进入高分辨率飞行时间质谱仪；
离子束经高分辨率飞行时间质谱仪检测，信号通过放大和模数转换器，然后进入仪器控制和数据采集电脑。
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Yatavelli, R.L. N., F. Lopez-Hilfiker, J. A. Wargo, J. R. Kimmel, T. H. Bertram, M. J. Cubison, J. L. Jimenez, M. Gonin, D. R. Worsnop, and J. A. Thornton.: Development of a field-deployable, chemical ionization, high-resolution time-of-flight mass spectrometer coupled to a micro orifice volatilization impactor (MOVI-HRToF-CIMS) for analysis of gas and particle-phase organic species”, AS&T, 46, 1313-1327, 2012.
Junninen, H.,Ehn, M., Petäjä, T., Luosujärvi, L., Kotiaho, T., Kostiainen, R., Rohner, U., Gonin, M., Fuhrer, K., Kulmala, M., and Worsnop, D. R.: A high-resolution mass spectrometer to measure atmospheric ion composition, Atmos. Meas. Tech., 3, 1039-1053, 2010.
Jokinen, T., Sipilä, M., Junninen, H., Ehn, M., Lönn, G., Hakala, J., Petäjä, T., Mauldin III, R. L. ,Kulmala M., Worsnop, D. R., Atmospheric sulphuric acid and neutral cluster measurements using CI-APi-TOF, Atm Chem Phys Disc, (In Open Discussion)
Yatavelli, R. L. N. & Thornton, J. A. Particulate organic matter Detection using a micro-orifice volatilization impactor coupled to a chemical ionization mass spectrometer (MOVI-CIMS). AS&T, 44(1), 61-74, 2010.
参考成交价格：