天瑞EDX 5500H X荧光元素录井分析仪参数指标

产品说明、技术参数及配置

秉承X荧光光谱仪20多年研发经验，天瑞元素录井分析仪EDX5500H再次推动了岩石中元素含量向具体化、快速化方向的发展。将Ｘ射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井这项技术的独到之处在于：通过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位，因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。

高效真空形成条件及高灵敏半导体探测器保障对岩心中的元素具有超低的检出限，为录井平台提供更有意义的具体数据特征；更宽的元素检出范围满足多种元素的同时检测需求；同时引入了目前zei先进的4096道数字多道技术，采用进口超薄铍窗有高激发效率的X射线管，使仪器计数率更高，稳定性更好，适用面更广；

优化了光路结构、软硬件可靠性，真空腔体使之性能更好、更便携；

独特的抗震性设计，高保护光路设计使得该仪器通过了第三方权威机构高低温、高低频电动振动及湿热等使用认证；

在现场测试、在线检测以及各类地质勘察多元素检测中充分发挥作用。

主机标准配置：

上照式光路系统直射模式     SDD探测器      数字多道处理器    美国进口高压

进口牛津铍窗X射线管       智能测试软件    校正模块内置    封闭式定向散热系统

高阻尼可动防震缓冲支脚     定制CCD高清摄像头

整套设备包括: Ｘ荧光分析主机、电脑、打印机、粉碎机、压片机、真空泵