帕纳科Epsilon 3x 台式能量色散型X射线荧光光谱仪参数指标

　　Epsilon 3XLE 是一种台式能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 光谱仪，可对从 Na 到 U 的元素（浓度从 ppm 到 100%）进行分析。

　　Epsilon 3 XL 仪器将zei新的激发和探测技术与顶尖的分析软件结合到了一起。15 瓦 X 射线管与大电流 (3 mA)、zei新的硅漂移探测器以及紧凑的光路设计相结合，提供了甚至超过 50 瓦功率 EDXRF 系统以及台式 WDXRF 系统的分析性能  -同时还额外提高了能源利用效率。

　　Epsilon 3XLE 可处理多种样本类型，包括固体、压片和疏松粉末、液体和滤膜，可用于在从研发到流程控制的领域中进行元素分析。它易于操作、可靠且高度灵活，是多种行业和应用的理想选择。激发和探测技术的zei新进步为该仪器提供了技术支持，从而帮助它提供了卓越的分析性能。

　　Epsilon 3 XL 符合 ASTM、ISO 和 DIN 等国际标准的要求并受到帕纳科全球销售和服务专家网络的支持。对于多种行业和应用（包括 RoHS 和 WEEE）来说，它是可取代分析方法的、经济且可行的备选方案。

Epsilon 3X 一种台式能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 光谱仪，用于在从研发到流程控制的领域中进行元素分析。它易于操作、可靠且高度灵活，是多种行业和应用的理想选择。

Epsilon 3X 仪器将zei新的射线发生和探测技术与顶尖的分析软件结合到了一起。9 瓦 X 射线管与zei新的硅漂移探测器以及紧凑的光路设计相结合，提供了甚至超过 50 瓦功率 EDXRF 系统的分析性能 - 同时还额外提高了能源使用效率。

Epsilon 3X 是一种能量色散 X 射线荧光光谱仪，可对从 F 到 Am 的元素（浓度从 ppm 到 100%）进行分析。将 Omnian 用于半定量分析，当需要快速分析鉴定时，则使用 FingerPrint 来进行材料测试，或者使用 Stratos 来对涂层、表面层和多层结构进行快速、简单和非破坏性的分析。用户还可使用Enhanced Data Security 以满足 FDA 21 CFR Part 11 等法规要求。