日本电子JSX-1000S能...
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  • 产品规格

  • FIB

检测元素范围Mg～U
F～U（选配）
X射线发生装置5～50　kV ,  1mA
靶材Rh
一次滤波器　zei多9种　自动交换标准：OPEN, ND, Cr, Pb, Cd
选配：Cl, Cu, Mo, Sb
准直器3种　自动交换0.9mm, 2mm, 9mm
检测器硅漂移检测器（SDD）
样品室尺寸300mmφ×80mmH
样品室气氛大气　/　真空(选配）
样品室观察机构彩色摄像机
操作用电脑Windows ®　触控屏 台式电脑
分析软件（标准）定性分析（自动定性、KLM标记、和峰显示、谱图检索）
定量分析（块状FP法、检量线法）
RoHS分析解决方案（Cd, Pb,Cr, Br, Hg)
简易分析解决方案
报告制作软件
分析软件（选配）薄膜FP法分析软件
关联滤波器FP法分析软件
日常检查软件（标准）管球升压、能量校正、强度校正

  • Windows ® 为美国微软公司在美国或其它国家的注册商标或商标。


  • 主要附件

  • 样品室真空排气单元

  • 多样品自动交换单元

  • 滤波器组

  • 滤膜FP 法分析软件

  • 薄膜FP 法分析软件

  • 和峰消除软件

  • 镍镀层筛选解决方案

  • 锡镀层筛选解决方案

  • 氯元素筛选解决方案


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