日立 AFM5500M全自动...

日立 AFM5500M全自动型原子力显微镜 参数指标

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AFM5500M 主机
马达台自动精密马达台
最大观察范围:100 mm (4英寸)全域
马达台移动范围:XY ± 50 mm、Z ≥21 mm
最小步距:XY 2 µm、Z 0.04  µm
最大样品尺寸直径:100 mm(4英寸)、厚度:20 mm
样品重量:2 kg
扫描范围200 µm x 200 µm x 15 µm (XY:闭环控制 / Z:感应器监控)
RMS噪音水平*0.04 nm 以下(高分辨率模式)
复位精度*XY: ≤15 nm(3σ、计量10  μm的标准间距) / Z: ≤1 nm (3σ、计量100 nm 的标准深度)
XY直角度±0.5°
BOW*2 nm/50 µm 以下
检测方式激光检测(低干涉光学系统)
光学显微镜放大倍率:x1 ~ x7
视野范围:910 µm x 650 µm ~ 130 µm x 90 µm
显示倍率:x465 ~ x3,255(27英寸显示器)
减震台台式主动减震台 500 mm(W) x 600 mm (D) x 84 mm (H)、约28 kg
防音罩750 mm(W) x 877 mm (D) x 1400 mm(H)、 约 237 kg
大小・重量400 mm(W) x 526 mm(D) x 550 mm(H)、约 90 kg
  • * 参数与设备配置及放置环境相关。

AFM5500M 专用原子力显微镜工作站
OSWindows7
RealTune®II自动调节悬臂振幅、接触力、扫描速率以及信号反馈
操作画面操作导航功能、多窗口显示功能(测试/分析)、3D图像叠加功能、扫描范围/测量履历显示功能、数据批处理分析功能、探针评估功能
X, Y, Z扫描驱动电压0~150 V
时时测试(像素点)4画面(最大2,048 x 2,048)
2画面(最大4,096 x 4,096)
长方形扫描2:1、4:1、8:1、16:1、32:1、64:1、128:1、256:1、512:1、1,024:1
分析软件3D显示功能、粗糙度分析、截面分析、平均截面分析
自动控制功能自动更换悬臂、自动激光对中
大小・重量340 mm(W) x 503 mm(D) x 550 mm(H)、约 34 kg
电源AC100 ~ 240 V ±10% 交流
测试模式标配:AFM、DFM、PM(相位)、FFM 选配:SIS形貌、SIS物理特性、LM-FFM、VE-AFM、Adhesion、Current、Pico-Current、SSRM、PRM、KFM、EFM(AC)、EFM(DC)、MFM
  • * WINDOWS 是、美国 Microsoft Corporation 在美国及美国以外国家注册商标。

  • * RealTune是日立高新科学公司在日本、美国以及欧洲的注册商标。

选配项:SEM-AFM联用系统
可适用的日立SEM型号SU8240、SU8230(H36 mm型)、SU8220(H29 mm型)
样品台大小41 mm(W) x 28 mm(D) x  16 mm (H)
最大样品尺寸Φ20 mm x 7 mm
对中精度±10 µm (AFM对中精度)


相关扫描探针/原子力显微镜SPM/AFM