一、创新的多位点样品台设计,提供工作效率
●一次操作zei多可以扫描16个样品
●样品安放简单,扫描迅速
●极大提高了数据的精确性和重复性
二、支持超大样品,满足业界发展需要
●zei大支持200 mm晶圆,满足用户目前和今后的需要
●满足半导体相关用户实际需要的专门设计
三、丰富的功能模式选择
●完善支持各种SPM功能
●支持多种选配测量模式
●支持各种可选配件,扩展性能优越