Evolution 350紫外可...
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货号产品规格描述
840-310800-Evolution 350 分光光度计闪烁氙灯
标准使用寿命:>5 年。如果不使用实时信号寿命更久。
保修期:3 年原厂替换件保修


产品规格-
基线平坦度±0.0015 A (200–800 nm)
2.0 nm SBW,平滑
描述Evolution 350 分光光度计
检测器类型双极硅光电二极管
Dimensions (L x W x H)53 x 61 x 38 cm / 20.8 x 24 x 14.9 in.
漂移<0.0005 Abs/h,500 nm,2.0 nm SBW, 2 hr 预热
Electrical Requirements100–240 V, 50–60 Hz
适用于(应用)学术,化工,食品和饮料,环境化学,工业质量保证/质量控制,材料科学,制药
闪烁氙灯
标准使用寿命:>5 年。如果不使用实时信号寿命更久。保修期:3 年原厂替换件保修
噪声光度0A:<0.00018 A1A: <0.00022 A2A: <0.00050 A500 nm, 2.0 nm SBW, RMS
光学设计改良 Ebert;样品和参考培养皿/附件位置双光束
Pharmacopoeia Compliance Testing波长精度: ±0.3 nm 190–900 nm
波长重复性: SD 10 meas.<0.1 nm
吸光度准确度:<±0.010A @ 1A, <±0.010A @ 2A
吸光度可重复性±0.0025A @ 1A
杂散光:198 nm,KCl>2A;220 nm,NaI >3A;300 nm,丙酮 >3A;340 nm,NaNO2 >3A波峰/波谷比 >1.8 @ 1 nm SBW 设置
Photometric Accuracy Instrument1A: ±0.004 A2A: ±0.004 A3A: ±0.006 A 采用可追溯 NIST 的中性密度滤光片在 546 nm 处测得。测试仪器性能时,用于合格/不合格判定的规格为此处列出的仪器规格,以及校准证书中列出的滤光片校准数据不确定数值之和。
Photometric Display±6 A
Photometric Range>4 A
Photometric Repeatability1A: ±0.0025 A
Scan Ordinate Modes吸光度,% 透射率,% 折射率,Kubelka-Munk,
Log(1/R),Log(吸光度),ABS × 因子,强度,第 1–4 衍射率
光谱带宽可选择 0.5、1.0、1.5、2.0、4.0 nm
杂散光198 nm: 2.4 A KCl
220 nm: 3.5 A NaI
340 nm: 4.0 A NaNO2
波长精度±0.20 nm(546.11 nm Hg 发射光线),±0.30 nm 190–900 nm
Wavelength Data Interval10, 5, 2, 1, 0.5, 0.2, 0.1, 0.05 nm
波长范围190–1100 nm
波长重复性10 次测量值<0.05 nm 的标准偏差
波长扫描速度可变,zei多 6000 nm/分钟
重量(英制)48.5 磅
重量(公制)22 kg
Beam Center Height8.5 mm


货号产品规格描述
912A0959-配有汞灯的Evolution 350 紫外-可见分光光度计闪烁氙灯
标准使用寿命: >5 年。如果不使用实时信号寿命更久。
保修期:3 年原厂替换件保修
低压汞蒸气灯
进行性能验证(PV)测试时使用,用以保证波长精确度和光谱带宽。


产品规格-
应用学术,化工,食品和饮料,环境化学,工业质量保证/质量控制,材料科学,制药
基线平坦度±0.0015 A (200–800 nm) 2.0 nm SBW,光滑
描述配有汞灯的Evolution 350 紫外-可见分光光度计
检测器类型双极硅光电二极管
Dimensions (L x W x H)53 x 61 x 38 cm / 20.8 x 24 x 14.9 in.
漂移<0.0005 Abs/h,500 nm,2.0 nm SBW, 2 hr 预热
Electrical Requirements100–240 V, 50–60 Hz
闪烁氙灯
标准使用寿命: >5 年。如果不使用实时信号寿命更久。
保修期:3 年原厂替换件保修
低压汞蒸气灯
进行性能验证(PV)测试时使用,用以保证波长精确度和光谱带宽。
噪声测光
0A:<0.00018 A
1A:<0.00022 A
2A:<0.00050 A
500 nm, 2.0 nm SBW, RMS
光学设计改良 Ebert;样品和参考培养皿/附件位置双光束
Pharmacopoeia Compliance Testing波长精度:±0.3 nm 190–900 nm
波长重复性:SD 10 meas.<0.1 nm
吸光度准确度:<±0.010A @ 1A, <±0.010A @ 2A
吸光度可重复性±0.0025A @ 1A
杂散光:198 nm,KCl >2A;220 nm,NaI >3A;300 nm,丙酮 >3A;340 nm,NaNO2 >3A
分辨率:波峰/波谷比 >1.8 @ 1 nm SBW 设置
Photometric Accuracy Instrument1A: ±0.004 A
2A: ±0.004 A
3A: ±0.006 A

采用可追溯 NIST 的中性密度滤光片在 546 nm 处测得。测试仪器性能时,用于合格/不合格判定的规格为此处列出的仪器规格,以及校准证书中列出的滤光片校准数据不确定数值之和。
Photometric Display±6 A
Photometric Range>4 A
Photometric Repeatability1A: ±0.0025 A
Scan Ordinate Modes吸光度,% 透射率,% 反射率,Kubelka-Munk,Log(1/R),Log(吸光度),ABS × 因子,强度,第 1-4 衍射率
光谱带宽可选择 0.5、1.0、1.5、2.0、4.0 nm
杂散光198 nm: 2.4 A KCl
220 nm: 3.5 A NaI
340 nm: 4.0 A NaNO2
波长精度±0.20 nm(546.11 nm Hg 发射光线),±0.30 nm 190–900 nm
Wavelength Data Interval10, 5, 2, 1, 0.5, 0.2, 0.1, 0.05 nm
波长范围190–1100 nm
波长重复性10 次测量值<0.05 nm 的标准偏差
波长扫描速度可变,zei多 6000 nm/分钟
重量(英制)48.5 lbs
重量(公制)22 kg
Beam Center Height8.5 mm




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