FEI Inspect S50 扫描...

FEI Inspect S50 扫描电子显微镜 参数指标

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  • 电子枪:高亮度、方便维护的钨灯丝电子枪

  • 分辨率:
     二次电子:
      高真空模式 3.0nm at 30kV; 8nm at3kV
      高真空减速模式 7nm at 3kV (可选项)
      低真空模式 3.0nm at 30kV; 10nm at 3kV
     背散射电子:
      4.0nm at 30kV

  • 加速电压:200 V - 30 kV, 连续可调

  • 探测器:E-T二次电子探测器,可选背散射探测器

  • 样品台:50x50mm 4轴马达驱动全对中样品台

 


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