【技术参数】
1、分辨率:3.0 nm @ 30 KV (SE 与W);4.0 nm @ 30 KV (VP with BSD )
2、加速电压:0.2-30KV
3、放大倍数:5-1000000 x
4、探针电流:0.5PA-5μA
5、X-射线分析工作距离:8.5mm 35度接收角
6、低真空压力范围:10-400Pa(选配:环扫模式10-3000pa) 用空气或可选的水蒸气
7、工作室:365mm (Φ) x 275 mm (h)
8、5轴优中心自动样品台:X=125mm Y=125mm Z=50mm
T=-10°- 90° R=360°(l连续)
9、zei大试样高度:145mm zei大试样直径:250mm
10、系统控制:基于Windows 7 的SmartSEM 操作系统