FEI Magellan 400L XHR 场发射扫描电镜技术特点

【技术特点】-- FEI Magellan 400L XHR 场发射扫描电镜

　　先进的声学外壳

　　zei先进的检测器和组件

　　静电扫描改善响应时间。

分辨率：二次电子（SE）像15kV时优于0.8nm，1kV时优于0.9nm，STEM模式，BF像30kV时优于0.6nm

　　带能力单色过滤器，超高分辨率热场发射扫描电镜，低加速电压下具有较高的分辨率，能够直接观察不导电材料的显微结构，热场发射肖特基电子枪，束流大，且稳定，电子束流连续可调，适用于纳米尺寸的能谱(EDS）及背散射电子衍射（EBSD）的分析要求。

【技术特点对用户带来的好处】-- FEI Magellan 400L XHR 场发射扫描电镜

【典型应用举例】-- FEI Magellan 400L XHR 场发射扫描电镜