牛津仪器Xplore能谱探测器参数指标

Xplore是SEM常规分析所用新一代EDS探测器。探测器有效晶体面积为15/30mm2 ，应用范围广泛。

Xplore使用了Ultim Max探测器中诸多新技术，它提供了实时EDS分析所需的快速数据采集，同时保证了常规分析所需的自动可靠的结果。

速度

Extreme电路与X1脉冲处理器的结合使Xplore能够以1,000,000 cps的计数率进行面分布分析，并以100,000 cps的速度进行准确定量分析

灵敏度

新的紧凑型设计使得探测器体积小巧且便于现场维修，更大限度地延长工作时间并减少宕机时间

Extreme电路

Xplore结合了先进的Extreme电路，提供尽可能低的噪音信号检测和处理。确保在高计数率下获得出色的能量分辨率和谱图质量，保证在100,000 cps下获得129eV Mn Kα分辨率