X-MaxN 80T 透射电镜TEM专用硅漂移探头、电制冷能谱仪参数指标

具有优越的能量分辨率，在计数率为50,000 cps时Mn元素的K峰分辨率为125 eV；

设计时考虑了低能X特征谱的探测敏感性以及输出信号的更大化；

优化的检出角保证了良好的峰背比以及对轻元素的探测敏感性；

从接收到特征X荧光谱到获得元素分布图的时间极大缩短；

AZtecTEM TruMap提供实时的扣背底以及谱峰剥离功能；

在包括场发射电子显微镜以及球差矫正电子显微镜等在内的所有种类透射电子显微镜中都有高性能的表现。

探测器晶体尺寸可选，分别为150 mm2，80 mm2，50 mm2，20 mm2

无论晶体面积或大或小，X-MaxN 的分辨率始终如一的好——并符合标准ISO15632:2012

无论晶体尺寸如何，能谱仪外管尺寸及在电镜中的位置完全一致，确保相同条件下，计数率的增加只源于晶体尺寸的增加

强大的低能端分析，所有晶体面积的能谱仪均保证由Be开始

与上一代X-Max同，无论SEM或FIB均使用同一界面

zei大计数率：200000

峰背比：200000:1

分辨率：200eV