【技术特点】-- Anton Paar Conscan白光共聚焦显微镜

可与CSM各种微米尺度测量模块结合使用，以分析微米级划痕和微米级压痕的三维表面形貌
非接触式测量，完全无损测量
XY大范围扫描(使用CSM标准操作平台)
Z方向宽扫描范围 (zei大范围 400 微米)
精确的二维轮廓，三维成像和表面粗糙度测量
可以在透明的材料表面进行成像
粗糙或光滑表面成像
Z方向zei大扫描范围的多种选择

【技术特点对用户带来的好处】-- Anton Paar Conscan白光共聚焦显微镜

【典型应用举例】-- Anton Paar Conscan白光共聚焦显微镜