二次离子质谱 (Secondary Ion Mass Spectrometry,SIMS) 是一种材料表面化学分析技术,它依赖于收集和分离从材料表面产生的二次离子, 根据检测到的离子的质荷比 (m/z)而给出材料表面成分信息。飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMS)是质谱分析的其中一种方法或者是其中一种类型的质谱分析仪。固体表面激发的二次离子是双束聚焦离子束轰击样品所产生的信号之一。...
静态二次离子质谱法中相对强度范围的重复性和稳定性 英国标准学会,关于质谱中相对强度的标准 BS ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性 BS ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性 BS ISO 23830-2008 表面化学分析.次级离子质谱法.静态次级离子质谱法中相对强度数值范围的重复性和稳定性...
飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)介绍美信检测失效分析实验室 【摘要】飞行时间二次离子质谱仪(Time FlightSecondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术,通过用一次离子激发样品表面,打出极其微 量的二次离子,根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量,具 有极高分辨率的测量技术。...
飞行时间二次离子质谱仪(ToF-SIMS) 在此类质谱仪中,二次离子被提取到无场漂移管,二次离子沿既定飞行路径到达离子检测器。由于给定离子的速度与其质量成反比,因此它的飞行时间会相应不同,较重的离子到达检测器的时间会比较轻的离子更晚。此类质谱仪可同时检测所有给定极性的二次离子,并具有极佳质量分辨率。...
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