以上我们介绍了x射线荧光分析仪的基本原理及其主要类型，下面我们着重阐述一下用x射线荧光分析技术无损检测贵金属首饰含量所应注意避免的误区。 误区1：强调“荧光” 过分迷信依赖大型仪器。许多用户错误地认为只有用x光管作为激发源的管激发仪器才是x荧光仪，一味地强调所谓“荧光”。...
X荧光射线（XRF）测厚仪器特点 1、镀层分析快速、无损，对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10秒~3分钟，分析精度高。 X荧光分析仪镀层测厚仪是光物理测量，其对测试样品不会产生任何的物理、化学变化，因此，其属于无损测量。同时对测试的样品不需要任何处理，分析速度更加快捷。 ...
X射线荧光光谱仪产品特点： 1.操作界面简单，测量方便，快捷 2.无损检测，在无标准样品时亦可准确分析 3.采用139±5eV的高精度分辨率，保证数据测量的精度。 ...
XRF作为一种无损检测技术，可以直接应用于现场、原位分析，在材料分析领域占有重要地位。 XRF9能量色散X射线荧光分析仪正是基于X射线荧光分析技术设计的一款新型X射线荧光光谱分析仪。可实现对样品中所含元素快速，无损，准确的定性、定量分析。采用XRF9分析仪进行成分辨别无需复杂的化学前处理，是最快速，经济的方法。 主要特点 1.样品无损检测：固体样品可直接检测，无需化学前处理。 ...
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