GB/T 17362-1998
黄金饰品的扫描电镜X射线能谱分析方法

Nondestructive method of X-ray EDS analysis with SEM for gold jewelry

GBT17362-1998, GB17362-1998

2009-05

GB/T 17362-1998 中,可能用到以下仪器

 

Aquilos 2 Cryo-FIB赛默飞FIB-SEM 应用于地矿/有色金属

Aquilos 2 Cryo-FIB赛默飞FIB-SEM 应用于地矿/有色金属

赛默飞世尔科技(中国)有限公司

 

赛默飞Aquilos 2 Cryo-FIBFIB-SEM 应用于电子/半导体

赛默飞Aquilos 2 Cryo-FIBFIB-SEM 应用于电子/半导体

赛默飞世尔科技(中国)有限公司

 

赛默飞(原FEI)Scios 2 DualBeam 透射电镜 TEM

赛默飞(原FEI)Scios 2 DualBeam 透射电镜 TEM

北京欧波同光学技术有限公司

 

Helios 5 EXL DualBeam双束扫描电镜

Helios 5 EXL DualBeam双束扫描电镜

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

Scios 2 DualBeamFIB-SEM(原FEI) 透射电镜 TEM

Scios 2 DualBeamFIB-SEM(原FEI) 透射电镜 TEM

北京欧波同光学技术有限公司

 

赛默飞(原FEI) 透射电镜 TEMFIB-SEM

赛默飞(原FEI) 透射电镜 TEMFIB-SEM

北京欧波同光学技术有限公司

 

FIB-SEMHelios 5 DualBeam赛默飞

FIB-SEMHelios 5 DualBeam赛默飞

北京欧波同光学技术有限公司

 

FIB-SEMHelios 5 Laser赛默飞

FIB-SEMHelios 5 Laser赛默飞

北京欧波同光学技术有限公司

 

JED-2300/2300F 能谱仪

JED-2300/2300F 能谱仪

日本电子株式会社(JEOL)

 

SEM5000 场发射扫描电镜 扫描电镜 应用于新能源

SEM5000 场发射扫描电镜 扫描电镜 应用于新能源

国仪量子技术(合肥)股份有限公司

 

国仪量子SEM3200扫描电镜 适用于表面缺陷和结构形状

国仪量子SEM3200扫描电镜 适用于表面缺陷和结构形状

国仪量子技术(合肥)股份有限公司

 

 场发射扫描电镜 扫描电镜SEM5000 应用于新能源

场发射扫描电镜 扫描电镜SEM5000 应用于新能源

国仪量子技术(合肥)股份有限公司

 

赛默飞(原FEI) 双束扫描电镜FIB-SEM 应用于地质

赛默飞(原FEI) 双束扫描电镜FIB-SEM 应用于地质

北京欧波同光学技术有限公司

 

赛默飞FIB-SEMScios 2 DualBeam 应用于电力

赛默飞FIB-SEMScios 2 DualBeam 应用于电力

北京欧波同光学技术有限公司

 

Scios赛默飞FIB-SEM 应用于电子/半导体

Scios赛默飞FIB-SEM 应用于电子/半导体

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

赛默飞Helios 5 EXLFIB-SEM 应用于地矿/有色金属

赛默飞Helios 5 EXLFIB-SEM 应用于地矿/有色金属

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

FIB-SEM DualBeam双束扫描电镜Helios 5 EXL 其他资料

FIB-SEM DualBeam双束扫描电镜Helios 5 EXL 其他资料

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

赛默飞Helios 5 LaserFIB-SEM 应用于新能源

赛默飞Helios 5 LaserFIB-SEM 应用于新能源

北京欧波同光学技术有限公司

 

FIB-SEMHelios 5 EXL赛默飞 其他资料

FIB-SEMHelios 5 EXL赛默飞 其他资料

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

(原FEI) 透射电镜 TEM赛默飞FIB-SEM 其他资料

(原FEI) 透射电镜 TEM赛默飞FIB-SEM 其他资料

北京欧波同光学技术有限公司

 

Helios 5 DualBeam赛默飞FIB-SEM 应用于新能源

Helios 5 DualBeam赛默飞FIB-SEM 应用于新能源

北京欧波同光学技术有限公司

 

Helios 5 EXL赛默飞FIB-SEM 应用于电子/半导体

Helios 5 EXL赛默飞FIB-SEM 应用于电子/半导体

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

GB/T 17362-1998

标准号
GB/T 17362-1998
别名
GBT17362-1998
GB17362-1998
发布
1998年
发布单位
国家质检总局
替代标准
GB/T 17362-2008
当前最新
GB/T 17362-2008
 
 
本标准规定了用扫描电镜的X射线能谱仪,对黄金饰品含量进行无损的定量分析方法的技术要求和规范。本标准适用于对各种纯金饰品和K金饰品含金量的测定,也可适用于各种镀金、包金、锻压金等表面含金层厚度大于3um的饰品表面层含金量的测定。本标准也适用于电子探针X射线能谱仪对黄金饰品的分析。

GB/T 17362-1998相似标准


推荐

飞纳电镜助力华正 CNAS 实验室

01电镜谱测试仪(SEM-EDS)外观02测试相关标准GB/T 16594 微米级长度扫描电镜测量方法GB/T 12334 金属和其他非有机覆盖层关于厚度测量定义和一般规则GB/T 14593 山羊绒、绵羊毛及其混合纤维定量分析方法扫描电镜法GB/T 17723 黄金制品镀层成分X射线谱测量方法GB/T 17632 黄金饰品扫描电镜X射线谱分析方法03测试原理电子枪产生高能电子束射到样品某个部位时...

花岗石矿相扫描电镜-X射线谱分析

为了合理利用具有经济价值各不同类别花岗石并提高其加工效果,必须采用各种检测方法尽量了解其矿相组成和相组织状态。本文通过剖析实例,阐明利用扫描电镜X射线谱仪相结合方法对花岗石进行矿相显微分析是可行而有效,所获信息为花岗石评价、利用和加工提供了科学依据。 ...

电流斑环境扫描电镜X射线谱分析

利用环境扫描电镜-X射线谱仪(environmental scanning electron microscope and energydispersive X-ray microanalyser,ESEM-EDX)研究电流斑微观形态特征及元素构成,以期为电流斑及电击死鉴定提供更准确、客观依据。方法用ESEM-EDX检测5例电流斑扫描电镜形态、金属颗粒形态及其元素组成。...

X射线谱分析技术在口腔医学领域应用现状

扫描电子显微镜X-射线谱分析仪,是一种多功能、超显微、形貌与成分分析相结合现代显微分析仪器,可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、亚微米局部范围内表面特征和微米区域成份定性和半定量分析。X射线谱分析仪目前一般作为附件安装在扫描电镜和带扫描附件透射电镜上,并在扫描电镜引导下进行谱 ...


GB/T 17362-1998 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号