X射线镀层膜厚测试仪Ux-720,该款仪器特别为颇具挑战性的RoHS/ WEEE分析而研发。而且,它还十分适合于测量黄金及其他贵金属,分析金的成分重复性可达0,5 ‰。可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。 使用安全简便,坚固耐用节省维护费用。而且,它符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。...
表1 珠宝首饰分析鉴定相关常见标准 图1 相关标准涉及的岛津仪器展示岛津利器性能卓越的EDX-7200能量色散型X射线荧光光谱仪 专利技术岛津分析中心申请的中国发明专利《一种含镀层贵金属成分的X射线荧光光谱分析方法》(ZL 2019 1 0867000.4已获国家知识产权局授权),专利技术为含镀层贵金属样品成分的无损检测提供了解决方案。 ...
自动对焦功能简便的摄像头对焦 自动接近功能zui适合位置的对焦 X荧光镀层厚度测量仪能通过新薄膜FP法提高测量精度 日立FT110AX射线荧光镀层厚度测量仪实现微小光束的高灵敏度,通过微小准直器提高了膜厚测量精度。镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2。另外,针对检测器的特性开发了新的EP法,可进行无标样测量。测量结果可一键生成报告书,简单方便。 ...
X射线光电子能谱分析X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射线去辐射样品,使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子,可以测量光电子的能量,以光电子的动能为横坐标,相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子能谱图,从而获得待测物组成。...
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