GB/T 19500-2004
X射线光电子能谱分析方法通则

General rules for X-ray photoelectron spectroscopic analysis method

哪些标准引用了GB/T 19500-2004

 

GB/T 25184-2010X射线光电子能谱仪鉴定方法GB/T 25188-2010硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法

 

 

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标准号
GB/T 19500-2004
发布日期
2004年04月30日
实施日期
2004年12月01日
废止日期
无
中国标准分类号
N33
国际标准分类号
17.180.30
发布单位
CN-GB
适用范围
本标准规定了X射线光电子能谱（XPS、X-ray Photoelectron Spectroscopy 或ESCA，Electron Spectroscopy for Chemical Analysis）的一般表面分析方法以及相关的表面化学分析术语的含义，适用于X射线光电子能谱仪。

GB/T 19500-2004系列标准

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谁引用了GB/T 19500-2004 更多引用

GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪鉴定方法 GB/T 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法


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