分为火花源质谱仪、离子探针质谱仪、激光探针质谱仪、辉光放电质谱仪、电感耦合等离子体质谱仪。火花源质谱仪不仅可以进行固体样品的整体分析,而且可以进行表面和逐层分析甚至液体分析;激光探针质谱仪可进行表面和纵深分析;辉光放电质谱仪分辨率高,可进行高灵敏度,高精度分析,适用范围包括元素周期表中绝大多数元素,分析速度快,便于进行固体分析;电感耦合等离子体质谱,谱线简单易认,灵敏度与测量精度很高。...
其它表面和深度分析技术,需要结构复杂的真空仪器,如二次离子质谱(SIMS)、辉光放电质谱(GD-MS)、俄歇电子能谱(AES)和X射线光电子能谱(XPS),检测速度慢或价格昂贵。LIBS可提供锂离子电池组件在实验室或工厂的深度分析能力,具有快速、灵敏度高、精确度高、全元素分析等特点。...
事实上,是由于当时火花源的成就使人们离开辉光放电,而在相隔50多年以后,又是火花源在使用过程中出现的缺陷,促使质谱工作者又重新思考辉光放电技术。正如人们所知,气体放电过程出现的辉光是等离子体的一种形式,等离子体是由几乎等浓度的正、负电荷加上大量中性粒子构成的混合体。...
该方法定量测定碳化硅粉末和器件中痕量元素,测定的结果与辉光放电质谱法(GD-MS)和电感耦合等离子体光谱(ICP-OES)比较一致。中国原子能科学研究院 姜山教授 来自中国原子能科学研究院的姜山教授带来报告题目为《CIAE的加速器质谱(AMS)技术及其应用研究新进展——CIAE的AMS在国际上的地位和作用》。 ...
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