GB/T 6462-2005
金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法

Metallic and oxide coatings-Measurement of coating thinckness-Microscopical method

GBT6462-2005, GB6462-2005


标准号
GB/T 6462-2005
别名
GBT6462-2005, GB6462-2005
发布
2005年
采用标准
ISO 1463:2003 IDT
发布单位
国家质检总局
当前最新
GB/T 6462-2005
 
 
引用标准
GB/T 12334
被代替标准
GB/T 6462-1986
适用范围
本标准规定了运用光学显微镜检验测横断面,以测量金属覆盖层、氧化膜层和釉瓷或玻璃搪瓷覆盖层的局部厚度的方法。

GB/T 6462-2005相似标准


推荐

显微镜测氧化膜厚度的方法介绍

  显微镜(金相试片观察)  将经过氧化的零件,切取一试片用金相试片的方法处理后,放在显微镜下,观察氧化膜的厚度。  GB-T6462-2005 金属氧化物涂覆层厚度测量-显微镜 中说明了试样的制备,以及这种方法的偏差。  ...

测量镀层或薄膜厚度的几种常见方法

库仑测厚,将被测金属镀层作为阳极,并置于电解液中进行电解,所溶解的金属量与通过的电流溶解时间的乘积成比例,既与消耗的电量成比例。  【测试范围】适合测量单层多层金属覆盖层厚度阳极溶解库仑,包括测量多层体系,如Cu/Ni/Cr以及合金覆盖层和合金化扩散层的厚度。不仅可以测量平面试样的覆盖层厚度,还可以测量圆柱形线材的覆盖层厚度,尤其适合测量多层镍镀层的金属及其电位差。...

WH92双功能涂层测厚仪

符合以下标准GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法JB/T 8393─1996 磁性涡流式覆层厚度测量仪JJG 889─95 《磁阻测厚仪》JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》 WH92涂层测厚仪特点采用了磁性涡流两种测厚方法,即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度...

高精度涂层测厚仪测量原理

磁性(f型测头):当测头与覆盖层接触时,测头磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可导出覆盖层厚度。涡流(n型测头):利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场,当测头与覆盖层接触时,金属基体上产生电涡流,并对测头中的线圈产生反馈作用,通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层厚度。...


GB/T 6462-2005 中可能用到的仪器设备


谁引用了GB/T 6462-2005 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号